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簡要描述:LW200-4JT 正置金相顯微鏡
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詳細介紹
一、產品介紹
LW200-4JT適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業(yè)部門作晶體,芯片及新材料等方面的檢驗與分析。
*的100X干鏡可媲美國外同類產品,為國內市場配置zui的產品.
二、主要技術參數(shù):
1.三目鏡筒:傾斜45 °可旋轉360 °,瞳距55mm-75mm
視度±5°輔助倍數(shù)1.25X
2.平場目鏡:高眼點10X/20mm可選配市場地直徑24mm
3.長距平場物鏡: PLL4X/37.5,10X/7.31,40X/0.63,80X/0.96
4.總放大倍數(shù):40X-800X
5.載物臺:尺寸160mm*140mm
移動范圍 75*50mm
6.聚焦鏡:可調式阿貝聚焦鏡NA1.25
孔鏡光欄 濾色片座
7.調 焦 :粗微動同軸 升降范圍25mm
微動格值0.002mm
8.暗場裝置
9.光 源:柯勒照明 正交偏振裝置 濾色片座
可調鹵素燈 12V/50W
可選配件:300萬數(shù)字彩色攝像頭,金相分析軟件
佳能數(shù)碼相機 100X(干鏡)
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